|
摘要：
尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社(以下簡(jiǎn)稱“本公司”)將參展2024年9月4日(周三)～9月6日(周五)于臺(tái)北南港會(huì)展中心舉辦的“SEMICONTAIWAN2024”,該展會(huì)是展示半導(dǎo)體行業(yè)前沿技術(shù)和創(chuàng)新成果的亞洲最大規(guī)模的國際展會(huì)之一。
該展會(huì)是臺(tái)灣頗具影響力的半導(dǎo)體行業(yè)展會(huì),今年的主題為“BREAKINGLIMITS:POWER…
|
尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社(以下簡(jiǎn)稱“本公司”)將參展2024年9月4日(周三)～9月6日(周五)于臺(tái)北南港會(huì)展中心舉辦的“SEMICON TAIWAN 2024”,該展會(huì)是展示半導(dǎo)體行業(yè)前沿技術(shù)和創(chuàng)新成果的亞洲最大規(guī)模的國際展會(huì)之一。
該展會(huì)是臺(tái)灣頗具影響力的半導(dǎo)體行業(yè)展會(huì),今年的主題為“BREAKING LIMITS: POWERING THE AI ERA.”,預(yù)計(jì)有超過1,100家企業(yè)參展。
預(yù)計(jì)未來人工智能半導(dǎo)體相關(guān)產(chǎn)品的市場(chǎng)需求將大幅增長(zhǎng),其微型化和安裝復(fù)雜性也在不斷增加,因此需要新的檢測(cè)技術(shù)來應(yīng)對(duì)這一趨勢(shì)。
尼得科精密檢測(cè)科技將以“TEST SYSTEM ONE STOP SOLUTIONS”為主題,介紹公司引以為豪的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)、電氣檢測(cè)技術(shù)、探測(cè)技術(shù),并且為尖端半導(dǎo)體封裝的晶圓、芯片、基板及封裝等所有工序提供優(yōu)秀的檢測(cè)解決方案。此外,還將介紹最近備受行業(yè)關(guān)注的功率半導(dǎo)體的前沿技術(shù)和產(chǎn)品。
〈參展概要〉
?會(huì)期:2024年9月4日(周三)～9月6日(周五)
?會(huì)場(chǎng):中國臺(tái)灣臺(tái)北南港會(huì)展中心(TaiNEX 2)
?展位:Hall2 Q5652
〈參展內(nèi)容〉
?高精度光學(xué)式晶圓檢測(cè)裝置“NSW系列”
?支持晶圓凸塊的光學(xué)式2D/3D檢測(cè)裝置“RWi系列”
?最多可支持60層的“空間轉(zhuǎn)換器MLO”
?高精度、降低噪音影響的“2D MEMS探針卡”
?可支持?40℃～200℃測(cè)量的“TC探針”
?可支持尖端半導(dǎo)體設(shè)備最小凸點(diǎn)間距60?的“MEMS FLEX探針卡”
?可支持高電壓、高溫環(huán)境的“腔室頭(Chamber Head)探針卡”
?xEV建模模擬器“E-Transport Simulator”
今后,尼得科精密檢測(cè)科技將不斷加快運(yùn)用了檢測(cè)裝置技術(shù)的各類產(chǎn)品的自主制造,通過實(shí)現(xiàn)包括電機(jī)節(jié)能化在內(nèi)的系統(tǒng)整體優(yōu)化來提高用電效率,為客戶提供有益于降低地球環(huán)境負(fù)荷的創(chuàng)新型解決方案。
|
